Pays-Bas

PHD POSITION ON MULTILAYER GROWTH OPTIMIZATION BY HYBRID X-RAY METROLOGY (MOXY

Opportunité de Doctorat en Physique des Matériaux

PHD Position sur l’Optimisation de la Croissance Multicouche par Métrologie X-ray Hybride (MOXY)

Entreprise : Universiteit Twente, Enschede, Overijssel, Pays-Bas
Date limite de candidature : 15 septembre 2025
Salaire : € 2,901 – € 3,707 brut par mois, basé sur une pleine année de travail (38-40 heures par semaine).

Description du Poste

Les films ultrafins, parfois de quelques nanomètres d’épaisseur, représentent un enjeu majeur pour de nombreux domaines technologiques avancés, allant de la photovoltaïque à la résistance à l’usure. La caractérisation des propriétés de ces films et de leur interaction avec les couches voisines présente des défis significatifs, en particulier dans le cadre de structures multicouches complexes. Le projet visera à établir une plateforme de métrologie X-ray interne, permettant une caractérisation précise des miroirs multicouches ultrafins, tout en intégrant des procédures de mesure, des analyses de données et des évaluations de tolérances.

Responsabilités Clés

  • Développer et raffiner une technique de métrologie hybride, basée sur une plateforme de métrologie X-ray, pour une caractérisation précise des structures multicouches et de leurs interfaces.
  • Quantifier séparément la morphologie des interfaces (rugosité) et les zones d’interdiffusion, mesurer la formation de composés aux interfaces, et évaluer l’effet des couches barrières.
  • Concevoir des structures multicouches adaptées à des analyses spécifiques et guider leur fabrication.
  • Caractériser ces structures par réflexion X-ray et d’autres techniques de science des surfaces.
  • Démontre la corrélation entre les propriétés structurales des multicouches et leur performance à différentes longueurs d’onde.

Profil Recherché

  • Master en physique des états solides, science des matériaux, physique computationnelle ou domaine connexe.
  • Expérience préalable en dépôt de films minces et/ou métrologie de films minces.
  • Compétences en analyse de données avec Matlab ou Python.
  • Aptitude à travailler de manière autonome ainsi qu’en collaboration au sein d’une équipe dynamique.
  • Créatif, motivé, et doté d’une envie de relever des défis scientifiques majeurs.
  • Maîtrise de l’anglais, avec capacité à collaborer intensivement avec des partenaires industriels et académiques.

Notre Offre

  • Poste à temps plein de quatre ans, avec une période d’essai la première année.
  • Salaire en accord avec la convention collective des universités néerlandaises (CAO-NU).
  • Avantages attractifs incluant une prime de vacances de 8%, un bonus de fin d’année de 8.3%, et un régime de retraite solide.
  • Minimum de 232 heures de congés en cas d’emploi à temps plein, avec possibilité de congés supplémentaires.
  • Programme de formation intégré dans le Twente Graduate School.

Informations et Candidature

Les candidatures doivent inclure une lettre de motivation détaillant votre intérêt, un CV, une liste de publications, les coordonnées de références et un relevé de notes académique. Un entretien et une présentation scientifique seront également partie intégrante du processus de sélection.

À Propos du Département

Le groupe XUV Optics fait partie de l’institut MESA+, un des plus grands instituts de recherche en nanotechnologie au monde, offrant des installations de recherche à la pointe de la technologie.

À Propos de l’Organisation

La Faculté des Sciences et Technologies de l’Université de Twente compte environ 700 employés et 2000 étudiants, concentrés sur la recherche et l’éducation à la pointe de la technologie chimique, de la physique appliquée et de la technologie biomédicale, en collaboration étroite avec des partenaires industriels tant aux niveaux national qu’international.

Pour Plus d’Informations

Pour des questions concernant cette position, veuillez contacter Robbert Kruijs, professeur assistant. Les questions générales sur l’Université de Twente peuvent être posées via le chatbot de l’institution.

Postulez dès maintenant !


📅 Date de publication de l’offre : Wed, 25 Jun 2025 06:25:35 GMT

🏢 Entreprise : Universiteit Twente

📍 Lieu : Enschede, Overijssel

💼 Intitulé du poste : PHD POSITION ON MULTILAYER GROWTH OPTIMIZATION BY HYBRID X-RAY METROLOGY (MOXY

💶 Rémunération proposée :

📝 Description du poste : Hours38 – 40 hr.Salary indicationSalary gross/monthly
based on full-time€ 2,901 – € 3,707Deadline15 Sep 2025Nanometer-thin films are enabling factors in many advanced technology fields such as photovoltaics, wear resistance, optics, and many more. Due to their thickness often being only a few nm or even below, one major challenge in designing and improving thin film devices is characterizing the properties of the synthesized nanometer thin films and their interaction with neighboring layers and their environment. In particular for complex structures such as multi-layers of alternating materials, it becomes a real challenge to uniquely extract information on their layer properties in order to understand and improve their performance.A way to “break the nanometric barrier” for structure analysis is to combine multiple techniques, picking those that complement each other. In particular the use of non-destructive techniques is important, avoiding unintentional sample modifications. Although such “hybrid” analysis should in principle be able to extract information beyond the limits of current techniques, its development is still in an early phase. There is a still need to develop reliable ways to robustly reconstruct the structural models, with an emphasis on picking and combining the right techniques, as well as quantifying the uniqueness of information obtained.Position Overview: You will develop an in-house X-ray metrology platform capable of accurately characterizing optical contrast and interfaces inside of nm-thin multilayer mirrors. You will integrate detailed measurement procedures, data analysis instructions, and tolerance assessments, along with multi-modal model analysis.Key Responsibilities:

  • Develop and refine a hybrid metrology technique, based on an X-ray metrology platform, in order to achieve precise characterization of a multilayer structure, including their interfaces.
  • Separately quantify interface morphology(roughness) and interdiffusion zones, analyze interface compound formation, and evaluate the effect of barrier layers on the formed structure and interfaces.
  • Design multilayer structures tailored for specific analyses.
  • Guide the process of fabrication of these structures and characterize them with X-ray reflectometry, and other surface science techniques.
  • Demonstrate the correlation between the structural properties of multilayers and their performance at various wavelengths.

The project will be carried out in collaboration with an industrial partner under the umbrella of the Industrial Focus Group XUV Optics where a multidisciplinary research program on growth, characterization, and application of thin filmed devices primarily for optical application is being carried out.Your profile

  • You have a master’s degree in solid state physics, materials science, computational physics or a related field.
  • You have some early experience in thin film deposition and/or thin film metrology.
  • You have experience with data analysis in Matlab or Python, and are willing to improve your skills in these areas.
  • You enjoy computational physics and are capable of working independently as well as collaboratively.
  • You are an excellent team player in an enthusiastic group of scientists and engineers working on a common theme.
  • You are creative, like to push boundaries, and are highly motivated to address major scientific challenges in thin film analysis, together with our industrial partners.
  • You are fluent in English and able to collaborate intensively with industrial and academic parties in regular meetings and work visits.

Our offer

  • A full-time position for four years, with a qualifier in the first year.
  • Your salary and associated conditions are in accordance with the collective labour agreement for Dutch universities (CAO-NU).
  • You will receive a gross monthly salary ranging from € 2.901,- (first year) to € 3.707,- (fourth year)
  • There are excellent benefits including a holiday allowance of 8% of the gross annual salary, an end-of-year bonus of 8.3%, and a solid pension scheme.
  • A minimum of 232 leave hours in case of full-time employment based on a formal workweek of 38 hours. A full-time employment in practice means 40 hours a week, therefore resulting in 96 extra leave hours on an annual basis.
  • You will have a training programme as part of the Twente Graduate School including courses on personal development.

Information and applicationYour reaction should include an application/motivation letter, emphasizing your specific interest and motivation, a detailed CV, a publication list, contact details of referees, and an academic transcript of B.Sc. and M.Sc. education. An interview and a scientific presentation will be part of the selection procedure.Share this vacancyAbout the departmentThe XUV Optics group is embedded in the MESA+ Institute (www.mesaplus.utwente.nl), which is one of the largest nanotechnology research institutes in the world, delivering competitive and successful high-quality research. The institute employs 500 people of which 275 are PhD’s or PostDocs. With its unique NanoLab facilities the institute holds 1250 m2 of cleanroom space and state-of-the-art research equipment.About the organisationThe Faculty of Science & Technology (Technische Natuurwetenschappen, TNW) engages some 700 staff members and 2000 students in education and research on the cutting edge of chemical technology, applied physics and biomedical technology. Our fields of application include sustainable energy, process technology and materials science, nanotechnology and technical medicine. As part of a people-first tech university that aims to shape society, individuals and connections, our faculty works together intensively with industrial partners and researchers in the Netherlands and abroad, and conducts extensive research for external commissioning parties and funders. Our research has a high profile both in the Netherlands and internationally and is strengthened by the many young researchers working on innovative projects with as doctoral candidates and post-docs. It has been accommodated in three multidisciplinary UT research institutes: Mesa+ Institute, TechMed Centre and Digital Society Institute.Want to know more?Kruijs, R.W.E. van de (Robbert)
Assistant ProfessorKruijs, R.W.E. van de (Robbert)
Assistant ProfessorDo you have questions about this vacancy? Then you can contact Robbert for all substantive questions about this position and the application procedure. For general questions about working for the UT, please refer to the chatbot.

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Depuis 1998, je poursuis une introspection constante qui m’a conduit à analyser les mécanismes de l’information, de la manipulation et du pouvoir symbolique. Mon engagement est clair : défendre la vérité, outiller les citoyens, et sécuriser les espaces numériques. Spécialiste en analyse des médias, en enquêtes sensibles et en cybersécurité, je mets mes compétences au service de projets éducatifs et sociaux, via l’association Artia13. On me décrit comme quelqu’un de méthodique, engagé, intuitif et lucide. Je crois profondément qu’une société informée est une société plus libre.

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